Поиск неисправностей в электронике - страница 20

стр.

>


>15. Конденсаторы можно проверить:

>а) омметром;

>б) пробой на искру;

>в) шунтированием;

>г) только «б» и «в»;

>д) «а», «б» и «в».


>16. Для изготовления кристалла р-типа:

>а) добавляется пятивалентный галлий;

>б) добавляется трехвалентный индий;

>в) добавляется пятивалентная сурьма;

>г) добавляется трех валентный мышьяк;

>д) ничего из перечисленного.


>17. Термин «акцептор» употребляется для обозначения:

>а) добавление пятивалентного элемента в кристалл;

>б) добавление трехвалентного элемента в кристалл;

>в) оба «а- и «б»;

>г) ничего из перечисленного выше.


>18. Фактически транзистор представляет собой:

>а) один диод;

>б) два диода, включенные встречно;

>в) три диода, включенные встречно;

>г) четыре диода, включенные встречно;

>д) ничего из перечисленного.


>19. Высокий коэффициент усиления по напряжению и низкий коэффициент усиления по току являются характеристиками:

>а) схемы с общей базой;

>б) схемы с общим эмиттером;

>в) схемы с общим коллектором;

>г) оба «а» и» в»;

>д) ничего из перечисленного.


>20. Если рабочее напряжение коллектора транзистора намного меньше нормального, это может означать:

>а) неисправный фильтр;

>б) обрыв в резисторе;

>в) обрыв в транзисторе;

>г) замыкание в транзисторе;

>д) ничего из перечисленного.


>21. Для отключения транзистора для поиска неисправностей:

>а) закоротить эмиттер и базу;

>б) закоротить базу и коллектор;

>в) закоротить затвор и анод;

>г) «а» или «б»;

>д) ничего из перечисленного.


>22. Тиристор можно рассматривать как встречное включение ___ диодов, и он состоит из анода, катода и ___.

>а) двух, анода;

>б) трех, управляющего электрода;

>в) четырех, базы;

>г) двух, эмиттера;

>д) трех, анода.


>23. Когда вы проверяете ИМС, работоспособность которых изменяется в зависимости от температуры, наилучшим методом является:

>а) проверка напряжения;

>б) проверка сопротивления;

>в) нагревание и /или замораживание;

>г) проверка тока;

>д) шунтирование.


>24. Лампа с тремя сетками это:

>а) триод;

>б) тетрод;

>в) пентод;

>г) многосеточная лампа;

>д) мощная лампа.


>25. Какой из перечисленных способов не используется обычно при поиске неисправностей электронных ламп:

>а) постукивание;

>б) устройство проверки ламп;

>в) «Шунтирование»;

>г) замена;

>д) оба: «а» и «б».


>26. Затвор в полевом транзисторе обычно:

>а) обратно смещен;

>б) прямо смещен;

>в) не смещен;

>г) ничего из перечисленного.


>27. МОП транзистор часто называют:

>а) полевой транзистор;

>б) биполярный транзистор;

>в) полевой транзистор с изолированы затвором МДП;

>г) тиристор.


>28. МОП транзистор с индуцированным p-каналом проводит при:

>а) прямом смещении;

>б) обратном смещении;

>в) нулевом смещении;

>г) ничего из перечисленного.


>29. Ток в МОП транзисторе с индуцированным n-каналом уменьшается при:

>а) прямом смещении;

>б) обратном смещении;

>в) нулевом смещении;

>г) ничего из перечисленного.


>30. Ионистор иначе называется:

>а) двухслойный конденсатор;

>б) диэлектрический конденсатор;

>в) конденсатор накопления энергии;

>г) электростатический конденсатор.


Вопросы и проблемы

1. Перечислите и поясните семь причин выхода из строя электронных и электрических устройств.

2. Перечислите и поясните четыре чувства, которые обычно используются при поиске неисправностей.

3. Каковы четыре причины неисправностей в схемах? Расскажите, чем они отличаются друг от друга.

4. Каковы характеристики короткого замыкания?

5. Каковы характеристики обрыва в схеме?

6. Каковы характеристики замыкания на землю в схеме?

7. Каковы характеристики наличия механических проблем в схеме?

8. Объясните разницу между терминами «шунтирование» и «замена».

9. Опишите метод контроля прохождения сигнала.

10. Перечислите и объясните различные типы технических чертежей.

11. Опишите способы поиска неисправностей конденсаторов.

12. Назовите несколько типов конденсаторов.

13. Опишите структуру диода.

14. Объясните, как тестировать диод.

15. Что такое кристаллический детектор?

16. Опишите структуру транзистора.

17. Опишите, как тестировать транзистор.

18. Опишите, как тестировать тиристор.

19. Опишите различные методы, которые используются для поиска неисправностей транзисторов.

20. Опишите различные методы, которые используются для поиска неисправностей интегральных микросхем.

21. Опишите различия между некоторыми типами электронных ламп.